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  • 專利名稱(中文) / 低表面缺陷密度之磊晶基板
  • 專利名稱(英文) / EPITAXIAL STRUCTURE HAVING LOW DEFECT DENSITY
  • 所屬單位(一級單位) / 工學院
  • 所屬單位(二級單位) / 材料科學與工程學系
  • 發明人(中文) / 武東星
  • 發明人(英文) /
  • 申請國家 / 美國
  • 專利類型 / 發明
  • 專利證書號 / US 8,022,412 B2
  • 技術成熟度 / 實驗室階段

一種低表面缺陷密度之磊晶基板包含一基材、一第一磊晶層及複數阻擋塊,該第一磊晶層側向磊晶於該基材上且與該基材晶格不匹配,包括複數缺陷處、複數分別相對位於該等缺陷處頂端的第一凹洞,及一圍繞界定該等第一凹洞的磊晶層表面,該等第一凹洞是藉由濕式蝕刻劑對該第一磊晶層進行缺陷選擇性蝕刻形成,該等第一凹洞的孔徑寬度大小相近,該等阻擋塊移除速率不同於該第一磊晶層,該等阻擋塊分別填於每一第一凹洞中,以阻擋缺陷繼續延伸,且該等阻擋塊與該磊晶層表面共同定義出一完整且平坦的磊晶基面,以提高磊晶品質。


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